日经BP社2005年12月12日报道 在日前举办的“SEMICON Japan 2005”展会上,相继公布了使用开口数(NA)超过1的液浸ArF曝光设备进行实际曝光的结果。尼康和荷兰ASML(ASM Lithography)公司分别做了报告。
尼康首次公开了在NA为1.07的“NSR-S609B”上结合使用偶极照明和偏光照明“POLANO”,对47nm转盘间隔进行成像的结果。通过使用改良
利用NA超过1的液浸设备 尼康和ASML分别实现47nm和45nm成像性能
- 2005-12-12 15:40:54上传人:LI**!!
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